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簡要描述:LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場成像和光譜學的能力,以及接觸、動態、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射,散射光由外差干涉儀檢測。地形圖像可以與光學圖像同時獲得。
產品型號:
所屬分類:LT-sSNOM 低溫顯微鏡
更新時間:2025-07-24
廠商性質:生產廠家
LT-sSNOM 低溫顯微鏡
配備金屬反射鏡,波長范圍 532 納米 - 20 微米
帶有光纖干涉儀的原子力顯微鏡(AFM)
壓電掃描儀,4K(極低溫環境 )下掃描面積 30×30×15 微米
XYZ 樣品納米定位臺,行程 6×6×12 毫米
離軸拋物面鏡用 XYZ 納米定位臺,行程 4×4×6 毫米
電阻式位置傳感器,分辨率 200 納米
外徑 49 毫米
溫度范圍 10 毫開爾文至 300 開爾文
磁場強度最高達 31 特斯拉
樣品架帶 8 個電觸點
支持接觸式 / 動態 / 非接觸式原子力顯微鏡(ncAFM)/ 磁力顯微鏡(MFM)/ 導電原子力顯微鏡(cAFM)/ 開爾文探針力顯微鏡(KPFM)/ 脈沖力顯微鏡(PRFM)/ 靜電力顯微鏡(EFM)模式
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