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LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場成像和光譜學(xué)的能力,以及接觸、動(dòng)態(tài)、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射,散射光由外差干涉儀檢測。地形圖像可以與光學(xué)圖像同時(shí)獲得。
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