霍爾效應測試儀利用范德堡測量技術對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物理性質。霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。
霍爾效應測試儀系統由可換向電磁鐵、高精度電源、連接電纜、高精度恒流源、高精度電壓表，霍耳探頭、標準樣品組成。CH-100霍爾效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍耳測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。還可單獨做恒流源、微伏表使用。
霍爾效應測試儀是性能穩定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀，在國內高校、研究所及半導體業界擁有廣泛的用戶和度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據范德堡法則。
霍爾效應測試儀選用高靈敏度的標準樣品，其霍爾電壓較高，采用4位半高精度微伏表測量。本系統將高精度恒流源，四位半微伏表及和霍爾測量復雜的切換電路組裝成一體。大大簡化了實驗的連線與操作。測試系統還可單獨做恒流電源，微伏表使用。是一種小型的便攜式儀器，旨在快速、準確、可重復測量非磁性材料，如塑料、玻璃、復合材料、鋁和鈦。廣泛應用于許多行業。可以測量的材料包括所有類型的塑料和復合材料。
您的位置：
地址：廣東省深圳市寶安區鐵仔路九方廣場2棟902室
郵箱：support@firstnanosystem.com
傳真：400-9999-185
咨詢電話